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[ml_016] 「実用顕微評価技術セミナー2018」ご案内

対象：会員および一般

速報発信者；粉川良平（島津製作所）

－実用顕微評価技術セミナー2018－

本セミナーは、顕微評価技術の展開と促進を図り、産業界に貢献することを目的に毎年開催しています。顕微鏡メーカーや分析機関の口頭発表とポスター展示にて、活発な意見交換の場を提供致します。また、柴田直哉先生をお招きし特別講演を頂きます。皆様のご来場をお待ちしております。

日　時：2018年6月21日（木曜日） 10：00 ～ 17：30
場　所：東京大学　小柴ホール（東大本郷キャンパス・理学部1号館内）
参加費：無料
テキスト：日本表面真空学会正会員、学生会員には無料配布。
　　　　　非会員の希望者には、2,000円（学生は1,000円）で頒布します。

プログラム：
10:00～12:00【ショートプレゼンテーション】
　　1.ブルカージャパン（株）
　　　「AFMスペクトル解析がもたらすビックデータ時代のナノ機械特性、
　　　　ナノ電気特性評価手法の提案」
　　2.（株）日立ハイテクノロジーズ
　　　「SEM-AFM相関顕微鏡法（SÆMic.）によるソリューション」
　　3.シエンタ　オミクロン（株）「超高真空SPM 新製品のご紹介」
　　4.（株）ユニソク「超高真空、低温の優位性を活かしたSPM実用例」
　　5.パーク・システムズ・ジャパン（株）
　　　「Park社製AFMシステムとノンコンタクトAFMモードの高速化技術（仮題）」
　　6.オックスフォード・インストゥルメンツ（株）
　　　「アサイラム・リサーチ AFM による液中観察の最新技術とアプリケーション」
　　7.（株）島津製作所
　　　「周波数変調原子間力顕微鏡（FM-AFM）による固液界面評価の最新技術」
　　8.（株）堀場製作所
　　　「AFM-Raman装置の実際とその応用―チップ増強ラマン分光測定技術のご紹介―」

12:00～13:30　ポスターセッション・展示/昼食休憩

13:30～14:30　特別講演：柴田直哉先生（東京大学大学院工学系研究科総合研究機構）
　　　　　　　「先進DPC STEM 法による材料電磁場解析」

14:35～16:00【ショートプレゼンテーション】
　　9.（株）コベルコ科研「イオンミリング装置を用いたTEM観察用試料作製法の紹介」
　　10.（株）ニコンインステック
　　　「BW シリーズ光干渉顕微鏡システムによるグラフェン単原子層の表面トポグラフィ測定」
　　11.アメテック（株）「CAMECA社製3次元アトムプローブによるナノ構造解析事例」
　　12.東芝ナノアナリシス（株）「磁場顕微鏡を用いた電流経路可視化技術の紹介」
　　13.日本電子（株）「最新試料作製装置による各種材料解析例」
　　14.（国研）物質・材料研究機構
　　　「高輝度・高スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡―実時間磁区観察・三次元磁化方向解析」

16:00-17:30 ポスターセッション・展示

*申込み方法等の詳細はHP　 https://www.jvss.jp/　をご参照ください。