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[ml_022] 【第65回表面科学基礎講座～表面・界面分析の基礎と応用～】のご案内
対象：会員および一般
速報発信者；林 智広（東京工業大学、表面科学基礎講座担当）
(公社)日本表面真空学会主催
【第65回表面科学基礎講座～表面・界面分析の基礎と応用～】 のご案内
表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術研究はもとより、産業界における
研究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析
の初心者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を
入門的かつ具体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。
また、各講演で演習問題の解説を行い、内容の理解を深めます。
表面科学基礎講座へ多数の方々の参加をお勧めいたします。
各講演の内容など企画の詳細につきましては、ホームページ
https://www.jvss.jp/jpn/activities/04/detail.php?eid=00002
をご覧下さい。
★新しく表面科学・表面分析を始める技術者や学生の皆さんの"新人研修"として、
あるいは技術者、研究者の皆さんが表面分析法の"基礎を見直す機会"としても、
ご活用下さい。
日時：2018年6月26日(火)～28日(木) の3日連続
会場：東京理科大学 神楽坂キャンパス 1号館17階記念講堂
（東京都新宿区神楽坂1-3) 最寄：JR飯田橋駅ほか、徒歩約3分
申込締切、申込方法：
6/20(水)までに、上記webサイトから
問い合わせ先：
日本表面真空学会事務局：shomu＠sssj.org
講座内容と講師(敬称略)：
6月26日(火)：
表面・界面分析概論 野副尚一（シエンタオミクロン）
真空技術基礎 大岩 烈（シエンタオミクロン）
X線光電子分光法（XPS） 中村 誠（富士通研）
薄膜X線測定法（XRD/XRR） 稲葉克彦（リガク）
放射光表面構造解析 近藤 寛（慶応大）
6月27日(水)：
SPMの基礎と応用 中嶋 健（東工大）
測定データの取扱いの基礎 太田英二（慶応大）
二次イオン質量分析法(スタティックSIMS)
中西加奈（東レリサーチセンター）
走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EPMA）
林 広司（島津）
透過電子顕微鏡（TEM/STEM/EDS/EELS）
保田英洋（大阪大）
6月28日(木)：
表面における赤外分光法、ラマン分光法
石橋孝章（筑波大）
表面の特性基礎 木口 学（東工大）
イオンプローブ基礎 笹川 薫（コベルコ科研）
界面分析としての電気化学測定基礎
増田卓也（物材機構）
DLTS（Deep Level Transient Spectroscopy）法を中心とした
電気計測による界面評価 徳田 豊（愛知工業大）
日本表面真空学会 事務局
〒113-0033 東京都文京区本郷5-25-16 石川ビル5階 TEL：03-3812-0266 FAX：03-3812-2897 Email：