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[ml_023] 「実用顕微評価技術セミナー2018」ご案内

対象：会員および一般

速報発信者；粉川良平（島津製作所）

－実用顕微評価技術セミナー2018－

本セミナーは、顕微評価技術の展開と促進を図り、産業界に貢献することを目的に毎年開催しています。顕微鏡メーカーや分析機関の口頭発表とポスター展示にて、活発な意見交換の場を提供致します。また、柴田直哉先生をお招きし特別講演を頂きます。皆様のご来場をお待ちしております。

日　時：2018年6月21日（木曜日） 10：00 ～ 17：30
場　所：東京大学　小柴ホール（東大本郷キャンパス・理学部1号館内）
参加費：無料
テキスト：日本表面真空学会正会員、学生会員には無料配布。
　　　　　非会員の希望者には、2,000円（学生は1,000円）で頒布します。

プログラム：
10:00～12:00【ショートプレゼンテーション】
　　　　1.ブルカージャパン（株）
　　　　　「AFMスペクトル解析がもたらすビックデータ時代のナノ機械特性、
　　　　　　ナノ電気特性評価手法の提案」
　　　　2.（株）日立ハイテクノロジーズ
　　　　　「SEM-AFM相関顕微鏡法（SÆMic.）によるソリューション」
　　　　3.シエンタ　オミクロン（株）「超高真空SPM 新製品のご紹介」
　　　　4.（株）ユニソク「超高真空、低温の優位性を活かしたSPM実用例」
　　　　5.パーク・システムズ・ジャパン（株）
　　　　　「Park社製AFMシステムとノンコンタクトAFMモードの高速化技術」
　　　　6.オックスフォード・インストゥルメンツ（株）
　　　　　「アサイラム・リサーチ AFM による液中観察の最新技術とアプリケーション」
　　　　7.（株）島津製作所
　　　　　「周波数変調原子間力顕微鏡（FM-AFM）による固液界面評価の最新技術」
　　　　8.（株）堀場製作所
　　　　　「AFM-Raman装置の実際とその応用―チップ増強ラマン分光測定技術のご紹介―」

12:00～13:30　ポスターセッション・展示/昼食休憩

13:30～14:30　特別講演：柴田直哉先生（東京大学大学院工学系研究科総合研究機構）
　　　　　　　「先進DPC STEM 法による材料電磁場解析」

14:35～16:00【ショートプレゼンテーション】
　　　　9.（株）コベルコ科研「イオンミリング装置を用いたTEM観察用試料作製法の紹介」
　　　　10.（株）ニコンインステック
　　　　　　「BW シリーズ光干渉顕微鏡システムによる
　　　　　　　　　　　　　　グラフェン単原子層の表面トポグラフィ測定」
　　　　11.アメテック（株）「CAMECA社製3次元アトムプローブによるナノ構造解析事例」
　　　　12.東芝ナノアナリシス（株）「磁場顕微鏡を用いた電流経路可視化技術の紹介」
　　　　13.日本電子（株）「最新試料作製装置による各種材料解析例」
　　　　14.（国研）物質・材料研究機構
　　　　「高輝度・高スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡
　　　　　　　　　　　　　　　―実時間磁区観察・三次元磁化方向解析」

16:00-17:30 ポスターセッション・展示

*申込み方法等の詳細はHP　 https://www.jvss.jp/　をご参照ください。