対象:会員および一般
速報発信者;加藤 浩之(大阪大学、表面科学基礎講座関西地区担当)
第66回 表面科学基礎講座(~表面・界面分析の基礎と応用~)のご案内
表面・界面分析技術はめざましく進歩し、かつ多岐にわたります。近年では
学術研究はもとより、産業界における研究開発や品質評価などにも盛んに利用
されるようになりました。本講座は、表面・界面分析の初心者、若手研究者、
技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具体例を豊富
に挙げて解説することを目的に実施しています。講義内容も主要な課題を厳選
し、最前線でご活躍されている先生方を講師として開催いたします。
表面科学・表面分析を新たに始める技術者や学生の皆さんの"研修"として、
あるいは技術者、研究者の皆さんが表面分析法の"基礎を見直す機会"として
ご活用ください。多数の方々のご参加をお待ちしております。
日 程: 2018年10月18日(木) ~ 19日(金)
場 所: 大阪大学 豊中キャンパス 基礎工学国際棟(Σホール)セミナー室
http://www.osaka-u.ac.jp/ja/access/accessmap.html
http://www.osaka-u.ac.jp/ja/access/toyonaka/toyonaka.html(建物21番)
プログラム:
●1日目 10月18日(木)
9:15~ 9:20 開会あいさつ
9:20~10:50 表面・界面分析概論、真空技術基礎
大門 寛(奈良先端大学)
11:00~12:30 透過電子顕微鏡(TEM/STEM/EDS/EELS)
保田英洋(大阪大学)
12:30~13:30 (昼食)
13:30~14:50 走査電子顕微鏡,電子プローブマイクロアナライザ(SEM/EPMA)
林 広司(島津製作所)
15:00~16:30 イオンプローブ基礎
中嶋 薫(京都大学)
16:40~17:50 二次イオン質量分析法(S-SIMS)
竹野文人(パナソニック)
●2日目 10月19日(金)
9:30~10:50 走査プローブ顕微鏡(SPM)
菅原康弘(大阪大学)
11:00~12:20 X線光電子分光法(XPS)
中村 誠(富士通研究所)
12:25~12:35 放射光を利用した表面分析 概要
山本 達(東京大学 SPring-8)
12:35~13:30 (昼食)放射光を利用した表面分析 相談
山本 達(東京大学 SPring-8)
13:30~14:50 赤外分光法、ラマン分光法
松田景子(東レリサーチセンター)
15:00~16:20 界面分析としての電気化学測定基礎
増田卓也(物質材料研究機構)
16:30~17:40 DLTS(Deep Level Transient Spectroscopy)法を中心とした
電気計測による界面評価 徳田 豊(愛知工業大学)
17:40~ 修了証書授与
詳しくは、以下のURLをご覧ください。
https://www.jvss.jp/jpn/activities/04/detail.php?eid=00003
申込方法:上記のURLからお申込みください。
申込締切: 2018年10月11日(木)
定員: 70名(定員になりしだい〆切ります)
参加費:(テキスト代,消費税を含む)
日本表面真空学会正会員: 20,000円
日本表面真空学会法人会員: 25,000円
日本表面真空学会維持会員: 20,000円
日本表面真空学会賛助会員: 25,000円
協賛学協会会員: 30,000円
日本表面真空学会学生会員: 3,000円
学生(非会員): 5,000円
その他(非会員): 35,000円
※ 本講座を受講された方は、表面科学技術者資格の
第17回認定試験(11月17日)を無料で受験できます。
問合せ先:
公益社団法人日本表面真空学会 事務局
E-mail;office@jvss.jp
TEL;03-3812-0266 FAX;03-3812-2897
日本表面真空学会 事務局
〒113-0033 東京都文京区本郷5-25-16 石川ビル5階 TEL:03-3812-0266 FAX:03-3812-2897 Email: