対象:会員および一般
速報発信者;青柳里果(成蹊大学)
飛行時間型二次イオン質量分析とデータ解析のこれから
〜医療から工業材料まで〜
2018年11月14日(水)午後1時〜5時 成蹊大学 6号館 6階 601B/C
招待講演 「単純投影型TOF-SIMSの開発と医療応用」
橋本浩行氏(キヤノン, 千葉大学客員教授)
招待講演 「TOF-SIMSを用いた有機物分析(仮題)」
川島知子氏(パナソニック)
招待講演 「TOF-SIMSを用いた材料・製品の機能研究」
岡本昌幸氏(花王)
招待講演 「データサイエンスとSIMS(仮題)」
河野禎一郎氏(旭化成)
詳細は下記サイトをご覧ください。
http://siss-sims.com/siss/?page_id=2182
問い合わせ先:成蹊大学 青柳里果 <aoyagi@st.seikei.ac.jp>
日本表面真空学会 事務局
〒113-0033 東京都文京区本郷5-25-16 石川ビル5階 TEL:03-3812-0266 FAX:03-3812-2897 Email: