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[ml_153] 第22回二次イオン質量分析に関する国際会議 (SIMS-22) 開催およびSIMSの基礎講座開催のお知らせ

対象：会員および一般

速報発信者；高野明雄（株式会社トヤマ）

第22回二次イオン質量分析に関する国際会議 (SIMS-22) 開催
およびSIMSの基礎講座開催のお知らせ

SIMS国際会議は、SIMS及びイオンを活用した分析手法の物理現象の解明と新たな展開
を目的として、2年毎にアジア・北米・欧州で開催されてきましたが、今回、2019年
10月20日（日）～25日（金曜）の日程で、12年ぶりに日本（京都みやこメッセ）で開
催されることになりました。

本会議では、SIMSをはじめイオンを活用した分析法の基礎的現象、装置開発、各種産
業への応用など幅広く議論されます。
会議では、基調講演、招待講演、一般口頭講演、ポスターセッションの他、産業への
展開を目的としたindustrial dayが設けられており、SIMSおよびイオンビームを活用
した分析手法の研究のフロンティアを知る良い機会となります。
さらに、その成果をJournal of Vacuum Science & Technology B として刊行する予
定であり、情報発信のよい機会ともなります。

また、SIMS-22に併設して、2019年10月20日（日）には、若手研究者およびSIMSに従
事して間もない研究者を対象として、国際的に著名な先生方による基礎から応用まで
の講義も開催されます。

皆様の積極的なご参加をお待ちしております。

日程：２０１９年１０月１０日（日曜）～２５日（金曜）
会場：みやこメッセ（京都）

主催：日本学術振興会第141委員会新SIMS-WG
共催：公益社団法人日本表面真空学会
　　　The American Vacuum Society

詳細については、下記のwebサイトをご覧ください。
http://siss-sims.com/sims22/

連絡先：SIMS-22事務局　(sims22.office@siss-sims.com)