対象:会員および一般
速報発信者;中辻 寛(東京工業大学、教育委員会委員長)
第68回 表面科学基礎講座(~表面・界面分析の基礎と応用~)のご案内
表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術研究はもとより、産業界におけ
る研究開発や品質評価などにも盛んに利用されています。本講座は、表面・界面
分析の初心者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を
入門的かつ具体例を豊富に挙げて解説することを目的に実施しています。講義内容も
主要な課題を厳選し、最前線でご活躍されている先生方を講師として開催いたしま
す。
表面科学・表面分析を新たに始める技術者や学生の皆さんの"研修"として、
あるいは技術者、研究者の皆さんが表面分析法の"基礎を見直す機会"として
ご活用ください。多数の方々のご参加をお待ちしております。
日 程: 2019年10月17日(木)~18日(金)
場 所: 大阪大学 豊中キャンパス 基礎工学国際棟セミナー室
http://www.osaka-u.ac.jp/ja/access/accessmap.html
http://www.osaka-u.ac.jp/ja/access/toyonaka/toyonaka.html (建物21番)
プログラム:
●1日目 10月17日(木)
9:15~ 9:20 開会あいさつ
9:20~10:50 表面・界面分析概論、真空技術基礎
有賀哲也(京都大学)
11:00~12:30 透過電子顕微鏡(TEM/STEM/EDS/EELS)
保田英洋(大阪大学)
12:30~13:30 (昼食)
13:30~14:50 走査電子顕微鏡,電子プローブマイクロアナライザ(SEM/EPMA)
林 広司(島津製作所)
15:00~16:30 イオンプローブ基礎、ダイナミックSIMS
中嶋 薫(京都大学)
16:40~17:50 二次イオン質量分析法(スタティックSIMS)
中西加奈(東レリサーチセンター)
●2日目 10月18日(金)
9:30~10:50 走査プローブ顕微鏡(SPM)
菅原康弘(大阪大学)
11:00~12:30 X線光電子分光法(XPS,AES)
中村 誠(富士通研究所)
12:35~12:45 放射光を利用した表面分析 概要
山本 達(東京大学 SPring-8)
12:45~13:40 (昼食)放射光を利用した表面分析 相談(パネル)
山本 達(東京大学 SPring-8)
13:40~15:00 赤外分光法、ラマン分光法
松田景子(東レリサーチセンター)
15:10~16:20 界面分析としての電気化学測定基礎
増田卓也(物質材料研究機構)
16:30~17:30 DLTS(Deep Level Transient Spectroscopy)法を中心とした
電気計測による界面評価 徳田 豊(愛知工業大学)
17:30~ 修了証書授与
詳しくは、以下のURLをご覧ください。
https://www.jvss.jp/jpn/activities/04/detail.php?eid=00005
申込方法:上記のURLからお申込みください。
申込締切: 2019年10月10日(木)
定員: 70名(定員になりしだい〆切ります)
参加費:(テキスト代,消費税を含む)
日本表面真空学会個人正会員 20,000円
日本表面真空学会法人正会員 25,000円
日本表面真空学会維持会員 20,000円
日本表面真空学会賛助会員 25,000円
協賛学協会会員: 30,000円
日本表面真空学会学生会員 3,000円
学生(非会員): 5,000円
その他(非会員): 35,000円
※ 本講座を受講された方は、表面科学技術者資格の
第19回認定試験(11月16日)を無料で受験できます。
問合せ先:
公益社団法人日本表面真空学会 事務局
E-mail;office@jvss.jp
TEL;03-3812-0266 FAX;03-3812-2897
日本表面真空学会 事務局
〒113-0033 東京都文京区本郷5-25-16 石川ビル5階 TEL:03-3812-0266 FAX:03-3812-2897 Email: