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[ml_396] プログラムの訂正；【第71回表面科学基礎講座～表面・界面分析の基礎と応用～オンラインセミナー】　のご案内

対象：会員および一般

速報発信者；野口秀典（物質・材料研究機構/基礎講座担当）

※過日お送りいたしましたご案内のプログラムの内容に誤りがありましたので、
訂正して再送させていただきます。

(公社)日本表面真空学会主催
【第71回表面科学基礎講座～表面・界面分析の基礎と応用～オンラインセミ
ナー】のご案内

※申込締切は7/26（月）です。

表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術研究はもとより、産業界における研究
開発や品質評価などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析の初心
者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具
体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。また、各講演では最近のホッ
トトピックスも盛り込み、興味と理解を深めて頂けるようになっております。表面科
学基礎講座へ多数の方々の参加をお勧めいたします。

新しく表面科学・表面分析を始める技術者や学生の皆さんの"新人研修"として、
あるいは技術者、研究者の皆さんが表面分析法の"基礎を見直す機会"としても、
ご活用下さい。

各講演の内容など企画の詳細につきましては、下アドレスのホームページを御覧くだ
さい。
https://jvss.jp/jpn/activities/04/detail.php?eid=00009

日時：2021年8月2日（月)～8月31日（火）（ビデオオンデマンド方式）
会場：Google Classroomを使用します。申し込みにあたり、Gmail account（無料）
が必要です。

申込締切、申込方法：2021/7/26までに、上記webサイトから

問い合わせ先：日本表面真空学会事務局：office@jvss.jp

講義内容と講師（予告なく変更となることがあります）
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表面・界面分析概論野副尚一（元産総研）
真空技術基礎谷本育律（高エネ研）
表面の特性基礎本間芳和（東京理科大）
X線光電子分光法（XPS）      中村誠（富士通研）
オージェ電子分光法（AES）    中村誠（富士通研）
放射光表面構造解析       近藤寛（慶応大）
SPMの基礎と応用            中嶋健（東工大）
走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EPMA）
         林広司（島津）
薄膜X線測定法（XRD/XRR）     稲葉克彦（リガク）
表面における赤外分光法、ラマン分光法石橋孝章（筑波大）
界面分析としての電気化学測定基礎野口秀典（物材機構）
イオン散乱       中嶋薫（京都大）
二次イオン質量分析法(スタティックSIMS)
中西加奈（東レリサーチセンター）
二次イオン質量分析法(ダイナミックSIMS)
   沼尾茂悟（東レリサーチセンター）
測定データの取扱いの基礎太田英二 (慶應大名誉教授)
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