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[ml_445] 【第72回表面科学基礎講座～表面・界面分析の基礎と応用～】のご案内
対象：会員および一般
速報発信者；横田泰之（教育・育成委員会 副委員長）
(公社)日本表面真空学会主催
【第72回表面科学基礎講座～表面・界面分析の基礎と応用～】 のご案内
表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術研究はもとより、産業界における研究
開発や品質評価などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析の初心
者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具
体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。また、各講演では最近のホッ
トトピックスも盛り込み、興味と理解を深めて頂けるようになっております。表面科
学基礎講座へ多数の方々の参加をお勧めいたします。
各講義の内容など企画の詳細につきましては、ホームページ
https://www.jvss.jp/jpn/activities/04/detail.php?eid=00010
をご覧下さい。
★新しく表面科学・表面分析を始める技術者や学生の皆さんの"新人研修"として、
あるいは技術者、研究者の皆さんが表面分析法の"基礎を見直す機会"としても、
ご活用下さい。
日時：2022年1月12日(水)～2月28日(月)
会場：オンライン開催 （Google Classroomを使用します)
申込締切、申込方法：
2021年12月20日（月）までに、上記webサイトから
問い合わせ先：
日本表面真空学会事務局：office@jvss.jp
=== 同様のご案内を重複してお受取りの場合は、どうぞご容赦下さい ===
プログラム:
表面・界面分析概論 野副尚一（シエンタオミクロン）
真空技術基礎 谷本育律（高エネ研）
表面の特性基礎 本間芳和（東京理科大）
Ｘ線光電子分光法（XPS） 中村誠（富士通）
オージェ電子分光法（AES） 中村誠 （富士通）
放射光表面構造解析 近藤寛 (慶応大)
SPMの基礎と応用 中嶋健（東工大）
透過型電子顕微鏡による材料解析 柴田 直哉（東京大学）
走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EPMA）
林広司（島津）
薄膜X線測定法（XRD/XRR） 稲葉克彦 (リガク)
表面における赤外分光法、ラマン分光法 石橋孝章（筑波大）
界面分析としての電気化学測定基礎 野口秀典（物材機構）
イオン散乱 中嶋薫 （京都大）
二次イオン質量分析法（スタティックSIMS） 中西加奈 (東レリサーチセンター)
二次イオン質量分析法（ダイナミックSIMS） 沼尾茂悟 (東レリサーチセンター)
測定データーの取扱いの基礎 太田英二 (慶應大名誉教授)
日本表面真空学会 事務局
〒113-0033 東京都文京区本郷5-25-16 石川ビル5階 TEL：03-3812-0266 FAX：03-3812-2897 Email：