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[ml] 表面分析実践講座2024のご案内

対象：会員および一般

速報発信者；高見誠一（名古屋大学、表面分析実践講座担当）

公益社団法人日本表面真空学会主催
「表面分析実践講座2024」
実践! 最新走査電子顕微鏡実習実際の作業を通して身につける最新技術

最近の走査電子顕微鏡は、形状観察はもちろんのこと、各種検出器を駆使した多岐にわたる分析が可能となっています。そこで本講座では、SEM経験者を想定し、基礎と応用に関する講習と共に、専門家の指導の下で最新の実機を用いた実習に参加してもらい、体験を通じた原理の理解の深耕と、応用力の効くオペレーション技術を習得して頂きます。実習では、各種検出器の使い方から低加速電圧観察と分析、さらには試料断面の作製などを対象とし、実践を通じて習得することを目的としています。皆様のご参加をお待ちしております。

開催日：2024年8月8日（水）、9日（木）

会　場：日本電子株式会社開発館　https://www.jeol.co.jp
　　　　〒196-8585 東京都昭島市武蔵野3-1-2（JR青梅線「中神」駅徒歩13分）

プログラム
8月8日（木）
9:30-10:00 　SEM実習前に基礎をおさらい
　　　　　　　講師：朝比奈俊輔（日本電子株式会社）
10:00-12:00　SEM実習１（LV-SEMもしくはFE-SEM）
13:00-14:00　SEM実習１続き（LV-SEMもしくはFE-SEM）
14:00-15:00　SEM実習２（FE-SEMもしくはLV-SEM）
15:30-17:30　SEM実習２続き（FE-SEMもしくはLV-SEM）

8月9日（金）
9:30-10:00　低加速電子を用いる高分解能測定
　　　　　　　講師：髙見誠一（名古屋大学）
10:00-10:55　高分解能走査電子顕微鏡でみるナノ多孔質材料
　　　　　　　講師：遠藤　明（産業技術総合研究所）
11:05-12:00　複数の像検出器を搭載した最新走査電子顕微鏡を最大活用する
　　　　　　　－装置誕生から60年の技術の系譜－
　　　　　　　講師：佐藤　馨（ＪＦＥテクノリサーチ株式会社）
13:00-13:30　Arイオンビームを用いたSEM用の試料断面作製
　　　　　　　講師：應本玉恵（日本電子株式会社）
13:30-14:20　SEM-EBSD法の原理と材料解析への応用例
　　　　　　　講師：森田博文（オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社）
14:40-15:30　SEM-EDS分析の基礎と実際
　　　　　　　講師：森田正樹（日本電子株式会社）
15:30-17:00　装置実習（試料断面作製、EBSD、EDS）
17:00-17:30　総合討論

実習内容
８月８日（木）のSEM実習は、専門家の指導のもと各班最大3名に分かれLV-SEMおよびFE-SEMを実際に操作して頂きます。
LV-SEM（低真空SEM）：真空度による違い、無蒸着・蒸着の差、元素分析の留意点
FE-SEM (高分解能SEM)：低加速電圧、高分解能観察、各検出器における像解釈
※参加者の試料持参もお受けしております。実践講座当日に観察されたい試料がある場合は、お申し込み時に試料情報に関するアンケート欄に記入してください。

８月９日（金）の装置実習は、講義の内容（試料断面作製、EBSD、EDS）を実習によりさらに理解頂くため、各講師による装置実習を行います。講義後、各自の希望に分かれて実習します。また、この実習は事前の申し込みが可能です。先着による事前希望を優先させて頂きます。人数に余裕がある場合、当時の変更も可能です。講座当日の申し込みは部屋の都合により、ご希望に添えない場合もございます。

受講料（テキスト代、昼食、消費税を含む）
　日本表面真空学会正会員　　　60,000円
　日本表面真空学会法人正会員　60,000円
　日本表面真空学会維持会員　　50,000円
　日本表面真空学会賛助会員　　65,000円
　協賛学協会会員　　　　　　　70,000円
　その他　　　　　　　　　　　80,000円

参加定員：18名（定員に達し次第締め切ります）

申込方法：HPよりお申し込みください。
　https://jvss.jp/jpn/activities/06/detail.php?eid=00020

申込締切：2024年7月11日（木）

問合せ先
　公益社団法人日本表面真空学会事務局
　E-mail: office@jvss.jp　　TEL: 03-3812-0266